关于召开量子测试技术学术会议的通知
2025-10-10 19:00:00

尊敬的各位专家及学者:

随着量子科技的迅猛发展,量子计算、量子通信、量子精密测量等前沿方向正逐步从基础研究迈向工程化与产业化应用,成为新一轮科技革命和产业变革的战略制高点。我国在《“十四五”规划和2035年远景目标纲要》中明确提出要加快布局量子信息领域,提升关键核心技术自主创新能力,推动量子科技在国家重大战略需求中的应用。

在此背景下,由中国电子学会电子测量与仪器分会主办的“量子测试技术学术会议”,旨在搭建一个集学术交流、技术创新、成果转化与产业对接于一体的高水平平台。会议将聚焦量子测试领域的核心科学问题与关键技术瓶颈,汇聚国内外高校、科研院所、高新技术企业及标准化机构的力量,共同探讨量子测试的新原理、新方法、新仪器与新标准,推动我国量子测试技术体系的自主可控与协同发展,为建设科技强国和实现高水平科技自立自强提供坚实支撑。诚邀各界专家学者、行业精英齐聚一堂,共话未来,共谋发展。

一、会议时间、地点

时间:2025年11月22日(周六)

地点:成都市高新区(西区)西源大道2006号电子科技大学成电国际创新中心D栋D104报告厅

二、会议主办、承办、协办单位

1. 主办单位

中国电子学会电子测量与仪器分会

2. 承办单位

电子科技大学

北京方略博华文化传媒有限公司

3. 协办单位

电子科技大学(深圳)高等研究院

电子城·(成都)智慧科技创新中心

三、会议议程

08:30–09:00

会议签到(D104报告厅)

09:00–09:10

领导致辞

09:10–09:20

王厚军,教  授

电子科技大学

量子技术科普讲座

09:20–09:40

周  强,教  授

电子科技大学

量子增强光传感技术研究进展

09:40–10:00

刘院省,教  授
浙江大学

量子时空信息技术进展与趋势

10:00–10:20

肖寅东,教  授

电子科技大学

超导量子比特测控方法研究与挑战

10:20–10:40

茶  歇

10:40–11:00

韩顺利,研究员

中国电子科技集团公司

第四十一研究所

量子精密测试技术概况及研究进展

11:00–11:20

郭  浩,教  授

中北大学

固态原子自旋传感与精密测量仪器

11:20–11:40

宋振飞,研究员

中国计量院

微波量子精密测量技术与科学仪器

11:40-13:00

午  餐(桃园餐厅)

四、会议论文征集

会议召开的同时,向业界科研工作者和广大读者及参会代表进行宣传征稿,由EI、北大中文核心期刊《电子测量与仪器学报》特邀电子科技大学肖寅东教授担任专题主编,电子科技大学赵贻玖教授担任专题副主编。特别策划了“量子测试技术”专题,专题稿件涵盖主题可涉及以下相关方向(但不限于):量子技术及其相关测试、测量、仪器等领域的应用。截稿日期2025年12月31日,专题出版日期2026年2月28日,征稿方式:学报官网注册登录投稿,网址http://jemi.etmchina.com,选择“量子测试技术”栏目。诚邀科研院所、企业技术团队及行业专家分享前瞻性研究成果与实践经验。

五、会议注册

(一)会议注册费

参会代表身份

会议费标准(元/每人)

电子测量与仪器分会委员、

《电子测量与仪器学报》编委、个人会员

500

非电子测量与仪器分会会员

600

(二)如何注册报名

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参会人员均需要在注册报名系统中填写信息微信扫码报名。

报名系统推荐微信和支付宝支付,不支持现场刷卡缴费。

会议结束后自行扫描上方二维码开票,以注册人的账号登录开票,不以报名人账号登录开票。同一注册人为不同参会人员缴费,系统仅支持开具对应注册人的合并电子发票,不可拆分为多张独立票据,否则需参会人单独注册单独开票。

六、会议联系

对注册报到信息有任何不明之处,请及时与组委会联系。

会议报名:孙老师 173820812@qq.com 高老师 897908258@qq.com

论文投稿:安老师 010-53389339 jemi@vip.163.com

七、酒店推荐(自行预订,费用自理)

本次会议统一安排午餐,住宿请参会者自行安排,费用自理。

1. 全季酒店(成都高新电子科大店) 联系电话028-82122000

地址:成都市郫都区合作路89号龙湖时代天街8栋1楼(距离电子科技大学500m)

2. 汉庭酒店(成都高新电子科大店) 联系电话028-81498288

地址:成都市郫都区合作路89号龙湖时代天街5栋1楼(距离电子科技大学500m)

 

另:中国电子学会电子测量与仪器分会诚邀各界科技工作者加入到学会组织当中。扫描以下二维码,可注册为中国电子学会电子测量与仪器分会会员,参加此次会议注册费500元。同时享有该会议可分享版PPT。

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中国电子学会电子测量与仪器分会

2025年9月24日